Ultra Nano Hardness Tester (UNHT3) | Wide Scan Atomic Force Microscope (AFM) | Micro Combi Tester (MCT3) |
• Dérive thermique négligeable • Résolution profondeur : 0,001nm • Résolution de charge : 0,01µN • Charge maxi : 100mN • Profondeur maxi 50µm • pointes.. : - Berkovitch
- Coin cube
- Sphères (1µm & 10µm)
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• Zone de détection 110 µm x 110 µm • Profondeur verticale maxi 22µm • Vue de dessus et de côté optique du porte-à-faux • Mode contact et mode dynamique sans contact • Gamme de fréquence dynamique 15-300kHz |
• Micro rayures + Microindentation • Charge maxi : 30N • Charge de frottement maxi : 30N • Profondeur de pénétration maxi : 1mm • Longueur de rayure maxi : 4mm • pointes.. : - Sphère 100µm (rayure)
- Vickers (indentation
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nanotomographie
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microtomographie
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microtomographie adapté à la fabrication additive |
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mise à jour le 4 mai 2021