La microscopie électronique en transmission (MET) s’est imposée comme une plateforme puissante et polyvalente pour explorer les relations structure–propriétés à l’échelle nanométrique. La MET offre un accès direct à la distribution des phases, à la structure des interfaces et à la texture cristallographique dans ces films, fournissant des informations essentielles pour corréler les conditions de fabrication aux performances. Ce séminaire présentera une nouvelle approche pour cartographier les phases plutôt que les éléments à partir d’une nouvelle stratégie de séparation aveugle (blind source separation) des composants d’un jeu de données multi-modal (EELS, EDX, imagerie). Nous illustrerons les nombreux avantages de cette stratégie ainsi que ses limites par rapport aux méthodes de cartographie élémentaires conventionnels à partir de nombreux exemples allant des nanoparticules utilisées pour la catalyse hétérogène aux films minces composites.