Domaines de compétences personnelles :
- Microanalyse X (échantillons massifs et stratifiés) (Microsonde électronique de Castaing)
- Analyse EBSD
- Microscopie à double faisceau (FIB plasma et FIB Ga)
Equipements utilisés :
- Microsonde électronique de Castaing Cameca SX100 équipée d’un système anticontamination
- MEB FEG Zeiss GeminiSEM500 équipé d’une caméra EBSD CMOS Edax Velocity
- MEB FEG Zeiss GeminiSEM460 équipé d’une caméra EBSD CCD Edax Hikari
- MEB FIB ThermoFisher Helios 5 PFIB CXe (xénon)
- MEB FIB ThermoFisher Helios 5 CX (gallium)
Enseignement en microscopie MEB, FIB et techniques d'analyse associées :
- Formations professionnelles de Grenoble INP
- Formations entreprises du CNRS
- IUT UGA
- Groupement National de Microscopie Electronique à Balayage et de Microanalyses (journées pédagogiques, écoles d’été)