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Nano-Indentation

Contact : Marc Verdier



Appareillages


Un système d'indentation instrumentée commercial (MTS) est utilisé. Nous disposons de deux têtes de mesures (XP et DCM) dont les caractéristiques (force,déplacement) sont données ci-dessous, ainsi que de l'option de mesure de rigidité de contact en continu (détection synchrone).

Mesures XP / DCM:                 force                                        déplacement
Résolution                                50nN 1nN                                0,1 nm  0.2 pm
Limites                                     0.7 N  0.01N                           700 µm   15 µm

Domaines de recherche

Cet appareillage est utilisé pour la mesure de propriétés mécaniques locales (module élastique, plasticité) en relation avec les microstructures  de films minces ou de matériaux en volume.

Un volet important concerne la modélisation physique de l'essai par le développement de méthodes d'identification de lois de comportement mécaniques. En particulier la plasticité cristalline, les verres métalliques (susceptibilité à la pression hydrostatique) et les films nanoporeux à base de silice.
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